可控硅的保護電路，大致可以分為兩種情況：一種是在適當的地方安裝保護器件，例如，R-C阻容吸收回路、限流電感、快速熔斷器、壓敏電阻或硒堆等。再一種則是采用電子保護電路，檢測設備的輸出電壓或輸入電流，當輸出電壓或輸入電流超過允許值時，借助整流觸發控制系統使整流橋短時內工作于有源逆變工作狀態，從而抑制過電壓或過電流的數值。

1. 過流保護

2.可控硅的過壓保護

3. 電流上升率、電壓上升率的抑制保護

（1）電流上升率di/dt的抑制

可控硅初開通時電流集中在靠近門極的陰極表面較小的區域，局部電流密度很大，然后以0.1mm/μs的擴展速度將電流擴展到整個陰極面，若可控硅開通時電流上升率di/dt過大，會導致PN結擊穿，必須限制可控硅的電流上升率使其在合適的范圍內。其有效辦法是在可控硅的陽極回路串聯入電感。如下圖:

（2）.電壓上升率dv/dt的抑制

4.為什么要在可控硅兩端并聯阻容網絡

在實際可控硅電路中，常在其兩端并聯RC串聯網絡，該網絡常稱為RC阻容吸收電路。可控硅有一個重要特性參數－斷態電壓臨界上升率dlv/dlt。它表明可控硅在額定結溫和門極斷路條件下，使可控硅從斷態轉入通態的最低電壓上升率。若電壓上升率過大，超過了可控硅的電壓上升率的值，則會在無門極信號的情況下開通。即使此時加于可控硅的正向電壓低于其陽極峰值電壓，也可能發生這種情況。因為可控硅可以看作是由三個PN結組成。在可控硅處于阻斷狀態下，因各層相距很近，其J2結結面相當于一個電容C0。當可控硅陽極電壓變化時，便會有充電電流流過電容C0，并通過J3結，這個電流起了門極觸發電流作用。如果可控硅在關斷時，陽極電壓上升速度太快，則C0的充電電流越大，就有可能造成門極在沒有觸發信號的情況下，可控硅誤導通現象，即常說的硬開通，這是不允許的。因此，對加到可控硅上的陽極電壓上升率應有一定的限制。為了限制電路電壓上升率過大，確保可控硅安全運行，常在可控硅兩端并聯RC阻容吸收網絡，利用電容兩端電壓不能突變的特性來限制電壓上升率。因為電路總是存在電感的(變壓器漏感或負載電感)，所以與電容C串聯電阻R可起阻尼作用，它可以防止R、L、C電路在過渡過程中，因振蕩在電容器兩端出現的過電壓損壞可控硅。同時，避免電容器通過可控硅放電電流過大，造成過電流而損壞可控硅。由于可控硅過流過壓能力很差，如果不采取可靠的保護措施是不能正常工作的。

5.可控硅的選型

（1）正反電壓選擇

（2）.選擇額定工作電流

（3）.門極（控制極）選擇

（4）.選擇關斷時間（tg)

（5).電壓上升率（dv/dt)和電流上升率（di/dt)